Circuit Performance Shifts Due to Layout-Dependent Stress in Planar and 3D-ICs

  1. Marella, S.K.
  2. Sapatnekar, S.S.
Revista:
IEEE Transactions on Very Large Scale Integration (VLSI) Systems

ISSN: 1063-8210

Any de publicació: 2018

Volum: 26

Número: 12

Pàgines: 2907-2920

Tipus: Article

DOI: 10.1109/TVLSI.2018.2866290 GOOGLE SCHOLAR lock_openAccés obert editor
Font de les dades: Scopus