Estimating Circuit Aging Due to BTI and HCI Using Ring-Oscillator-Based Sensors

  1. Sengupta, D.
  2. Sapatnekar, S.S.
Revista:
IEEE Transactions on Computer-Aided Design of Integrated Circuits and Systems

ISSN: 0278-0070

Any de publicació: 2017

Volum: 36

Número: 10

Pàgines: 1688-1701

Tipus: Article

DOI: 10.1109/TCAD.2017.2648840 GOOGLE SCHOLAR lock_openAccés obert editor

Objectius de Desenvolupament Sostenible

Font de les dades: Scopus