Estimating Circuit Aging Due to BTI and HCI Using Ring-Oscillator-Based Sensors

  1. Sengupta, D.
  2. Sapatnekar, S.S.
Zeitschrift:
IEEE Transactions on Computer-Aided Design of Integrated Circuits and Systems

ISSN: 0278-0070

Datum der Publikation: 2017

Ausgabe: 36

Nummer: 10

Seiten: 1688-1701

Art: Artikel

DOI: 10.1109/TCAD.2017.2648840 GOOGLE SCHOLAR lock_openOpen Access editor

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