Estimating Circuit Aging Due to BTI and HCI Using Ring-Oscillator-Based Sensors

  1. Sengupta, D.
  2. Sapatnekar, S.S.
Aldizkaria:
IEEE Transactions on Computer-Aided Design of Integrated Circuits and Systems

ISSN: 0278-0070

Argitalpen urtea: 2017

Alea: 36

Zenbakia: 10

Orrialdeak: 1688-1701

Mota: Artikulua

DOI: 10.1109/TCAD.2017.2648840 GOOGLE SCHOLAR lock_openSarbide irekia editor

Garapen Iraunkorreko Helburuak

Datuen iturria: Scopus