Probabilistic wire resistance degradation due to electromigration in power grids

  1. Mishra, V.
  2. Sapatnekar, S.S.
Revista:
IEEE Transactions on Computer-Aided Design of Integrated Circuits and Systems

ISSN: 0278-0070

Any de publicació: 2017

Volum: 36

Número: 4

Pàgines: 628-640

Tipus: Article

DOI: 10.1109/TCAD.2016.2584054 GOOGLE SCHOLAR lock_openAccés obert editor
Font de les dades: Scopus