Incorporating hot-carrier injection effects into timing analysis for large circuits

  1. Fang, J.
  2. Sapatnekar, S.S.
Revista:
IEEE Transactions on Very Large Scale Integration (VLSI) Systems

ISSN: 1063-8210

Año de publicación: 2014

Volumen: 22

Número: 12

Páginas: 2738-2751

Tipo: Artículo

DOI: 10.1109/TVLSI.2013.2296499 GOOGLE SCHOLAR

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