The impact of BTI variations on timing in digital logic circuits

  1. Fang, J.
  2. Sapatnekar, S.S.
Revista:
IEEE Transactions on Device and Materials Reliability

ISSN: 1530-4388,  1558-2574

Any de publicació: 2013

Volum: 13

Número: 1

Pàgines: 277-286

Tipus: Article

DOI: 10.1109/TDMR.2013.2237910 GOOGLE SCHOLAR

Objectius de Desenvolupament Sostenible

Font de les dades: Scopus