The impact of BTI variations on timing in digital logic circuits

  1. Fang, J.
  2. Sapatnekar, S.S.
Revista:
IEEE Transactions on Device and Materials Reliability

ISSN: 1530-4388,  1558-2574

Ano de publicación: 2013

Volume: 13

Número: 1

Páxinas: 277-286

Tipo: Artigo

DOI: 10.1109/TDMR.2013.2237910 GOOGLE SCHOLAR

Obxectivos de Desenvolvemento Sustentable

Fonte de datos: Scopus