The impact of BTI variations on timing in digital logic circuits

  1. Fang, J.
  2. Sapatnekar, S.S.
Aldizkaria:
IEEE Transactions on Device and Materials Reliability

ISSN: 1530-4388,  1558-2574

Argitalpen urtea: 2013

Alea: 13

Zenbakia: 1

Orrialdeak: 277-286

Mota: Artikulua

DOI: 10.1109/TDMR.2013.2237910 GOOGLE SCHOLAR

Garapen Iraunkorreko Helburuak

Datuen iturria: Scopus