Process and reliability sensors for Nanoscale CMOS

  1. Keane, J.P.
  2. Kim, C.H.
  3. Liu, Q.
  4. Sapatnekar, S.S.
Revista:
IEEE Design and Test of Computers

ISSN: 0740-7475

Any de publicació: 2012

Volum: 29

Número: 5

Pàgines: 8-17

Tipus: Article

DOI: 10.1109/MDT.2012.2211561 GOOGLE SCHOLAR

Objectius de Desenvolupament Sostenible

Font de les dades: Scopus