Process and reliability sensors for Nanoscale CMOS

  1. Keane, J.P.
  2. Kim, C.H.
  3. Liu, Q.
  4. Sapatnekar, S.S.
Aldizkaria:
IEEE Design and Test of Computers

ISSN: 0740-7475

Argitalpen urtea: 2012

Alea: 29

Zenbakia: 5

Orrialdeak: 8-17

Mota: Artikulua

DOI: 10.1109/MDT.2012.2211561 GOOGLE SCHOLAR

Garapen Iraunkorreko Helburuak

Datuen iturria: Scopus