Process and reliability sensors for Nanoscale CMOS

  1. Keane, J.P.
  2. Kim, C.H.
  3. Liu, Q.
  4. Sapatnekar, S.S.
Zeitschrift:
IEEE Design and Test of Computers

ISSN: 0740-7475

Datum der Publikation: 2012

Ausgabe: 29

Nummer: 5

Seiten: 8-17

Art: Artikel

DOI: 10.1109/MDT.2012.2211561 GOOGLE SCHOLAR

Ziele für nachhaltige Entwicklung

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