Scalable methods for analyzing the circuit failure probability due to gate oxide breakdown
- Fang, J.
- Sapatnekar, S.S.
ISSN: 1063-8210
Any de publicació: 2012
Volum: 20
Número: 11
Pàgines: 1960-1973
Tipus: Article
ISSN: 1063-8210
Any de publicació: 2012
Volum: 20
Número: 11
Pàgines: 1960-1973
Tipus: Article