Scalable methods for analyzing the circuit failure probability due to gate oxide breakdown
- Fang, J.
- Sapatnekar, S.S.
ISSN: 1063-8210
Ano de publicación: 2012
Volume: 20
Número: 11
Páxinas: 1960-1973
Tipo: Artigo
ISSN: 1063-8210
Ano de publicación: 2012
Volume: 20
Número: 11
Páxinas: 1960-1973
Tipo: Artigo