Scalable methods for analyzing the circuit failure probability due to gate oxide breakdown

  1. Fang, J.
  2. Sapatnekar, S.S.
Zeitschrift:
IEEE Transactions on Very Large Scale Integration (VLSI) Systems

ISSN: 1063-8210

Datum der Publikation: 2012

Ausgabe: 20

Nummer: 11

Seiten: 1960-1973

Art: Artikel

DOI: 10.1109/TVLSI.2011.2166568 GOOGLE SCHOLAR
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