A framework for scalable postsilicon statistical delay prediction under process variations
- Liu, Q.
- Sapatnekar, S.S.
ISSN: 0278-0070
Año de publicación: 2009
Volumen: 28
Número: 8
Páginas: 1201-1212
Tipo: Artículo
ISSN: 0278-0070
Año de publicación: 2009
Volumen: 28
Número: 8
Páginas: 1201-1212
Tipo: Artículo