A framework for scalable postsilicon statistical delay prediction under process variations

  1. Liu, Q.
  2. Sapatnekar, S.S.
Revista:
IEEE Transactions on Computer-Aided Design of Integrated Circuits and Systems

ISSN: 0278-0070

Any de publicació: 2009

Volum: 28

Número: 1

Pàgines: 1201-1212

Tipus: Article

GOOGLE SCHOLAR
Font de les dades: Scopus