A framework for scalable postsilicon statistical delay prediction under process variations

  1. Liu, Q.
  2. Sapatnekar, S.S.
Revista:
IEEE Transactions on Computer-Aided Design of Integrated Circuits and Systems

ISSN: 0278-0070

Ano de publicación: 2009

Volume: 28

Número: 1

Páxinas: 1201-1212

Tipo: Artigo

GOOGLE SCHOLAR
Fonte de datos: Scopus