Width-dependent statistical leakage modeling for random dopant induced threshold voltage shift

  1. Gu, J.
  2. Sapatnekar, S.S.
  3. Kim, C.
Actas:
Proceedings - Design Automation Conference

ISSN: 0738-100X

ISBN: 9781595936271

Año de publicación: 2007

Páginas: 87-92

Tipo: Aportación congreso

DOI: 10.1109/DAC.2007.375130 GOOGLE SCHOLAR
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