Physical analysis of electromigration damage under non-d.c. conditions

  1. Castaño, E.
  2. Maiz, J.
Revista:
Microelectronics Reliability

ISSN: 0026-2714

Any de publicació: 1993

Volum: 33

Número: 8

Pàgines: 1189-1198

Tipus: Article

DOI: 10.1016/0026-2714(93)90348-3 GOOGLE SCHOLAR
Font de les dades: Scopus