Physical analysis of electromigration damage under non-d.c. conditions

  1. Castaño, E.
  2. Maiz, J.
Zeitschrift:
Microelectronics Reliability

ISSN: 0026-2714

Datum der Publikation: 1993

Ausgabe: 33

Nummer: 8

Seiten: 1189-1198

Art: Artikel

DOI: 10.1016/0026-2714(93)90348-3 GOOGLE SCHOLAR
Datenquelle: Scopus