An Ensemble of Component-Based and Population-Based Self-Organizing Maps for the Identification of the Degradation State of Insulated-Gate Bipolar Transistors
- Rigamonti, M.
- Baraldi, P.
- Alessi, A.
- Zio, E.
- Astigarraga, D.
- Galarza, A.
ISSN: 0018-9529
Año de publicación: 2018
Volumen: 67
Número: 3
Páginas: 1304-1313
Tipo: Artículo