Tradeoffs between gate oxide leakage and delay for dual <i>T<sub>ox</sub></i> circuits

  1. Sultania, AK
  2. Sylvester, D
  3. Sapatnekar, SS
Colección de libros:
41ST DESIGN AUTOMATION CONFERENCE, PROCEEDINGS 2004

ISSN: 0738-100X

ISBN: 1-58113-828-8

Año de publicación: 2004

Páginas: 761-766

Congreso: 41st Design Automation Conference

Tipo: Aportación congreso

DOI: 10.1145/996566.996773 GOOGLE SCHOLAR
Fuente de los datos: WoS