A comparison among different setups for measuring on-wafer integrated inductors in RF applications

  1. Aguilera, J.
  2. Matías, G.
  3. De Nó, J.
  4. García-Alonso, A.
  5. Berenguer, R.
Revista:
IEEE Transactions on Instrumentation and Measurement

ISSN: 0018-9456

Any de publicació: 2002

Volum: 51

Número: 3

Pàgines: 487-491

Tipus: Article

DOI: 10.1109/TIM.2002.1017719 GOOGLE SCHOLAR
Font de les dades: Scopus