Dislocation sources and slip band nucleation from indents on silicon wafers
- Wittge, J.
- Danilewsky, A.N.
- Allen, D.
- McNally, P.
- Li, Z.
- Baumbach, T.
- Gorostegui-Colinas, E.
- Garagorri, J.
- Elizalde, M.R.
- Jacques, D.
- Fossati, M.C.
- Bowen, D.K.
- Tanner, B.K.
ISSN: 0021-8898, 1600-5767
Año de publicación: 2010
Volumen: 43
Número: 5 PART 1
Páginas: 1036-1039
Tipo: Artículo