Circuit Performance Shifts Due to Layout-Dependent Stress in Planar and 3D-ICs

  1. Marella, S.K.
  2. Sapatnekar, S.S.
Revista:
IEEE Transactions on Very Large Scale Integration (VLSI) Systems

ISSN: 1063-8210

Año de publicación: 2018

Volumen: 26

Número: 12

Páginas: 2907-2920

Tipo: Artículo

DOI: 10.1109/TVLSI.2018.2866290 GOOGLE SCHOLAR lock_openAcceso abierto editor
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