Estimating Circuit Aging Due to BTI and HCI Using Ring-Oscillator-Based Sensors

  1. Sengupta, D.
  2. Sapatnekar, S.S.
Revista:
IEEE Transactions on Computer-Aided Design of Integrated Circuits and Systems

ISSN: 0278-0070

Año de publicación: 2017

Volumen: 36

Número: 10

Páginas: 1688-1701

Tipo: Artículo

DOI: 10.1109/TCAD.2017.2648840 GOOGLE SCHOLAR lock_openAcceso abierto editor
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