Probabilistic wire resistance degradation due to electromigration in power grids

  1. Mishra, V.
  2. Sapatnekar, S.S.
Revista:
IEEE Transactions on Computer-Aided Design of Integrated Circuits and Systems

ISSN: 0278-0070

Año de publicación: 2017

Volumen: 36

Número: 4

Páginas: 628-640

Tipo: Artículo

DOI: 10.1109/TCAD.2016.2584054 GOOGLE SCHOLAR lock_openAcceso abierto editor
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