The impact of BTI variations on timing in digital logic circuits

  1. Fang, J.
  2. Sapatnekar, S.S.
Revista:
IEEE Transactions on Device and Materials Reliability

ISSN: 1530-4388,  1558-2574

Año de publicación: 2013

Volumen: 13

Número: 1

Páginas: 277-286

Tipo: Artículo

DOI: 10.1109/TDMR.2013.2237910 GOOGLE SCHOLAR
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