Process and reliability sensors for Nanoscale CMOS

  1. Keane, J.P.
  2. Kim, C.H.
  3. Liu, Q.
  4. Sapatnekar, S.S.
Revista:
IEEE Design and Test of Computers

ISSN: 0740-7475

Año de publicación: 2012

Volumen: 29

Número: 5

Páginas: 8-17

Tipo: Artículo

DOI: 10.1109/MDT.2012.2211561 GOOGLE SCHOLAR
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