Scalable methods for analyzing the circuit failure probability due to gate oxide breakdown

  1. Fang, J.
  2. Sapatnekar, S.S.
Revista:
IEEE Transactions on Very Large Scale Integration (VLSI) Systems

ISSN: 1063-8210

Año de publicación: 2012

Volumen: 20

Número: 11

Páginas: 1960-1973

Tipo: Artículo

DOI: 10.1109/TVLSI.2011.2166568 GOOGLE SCHOLAR
Fuente de los datos: Scopus