Fast and accurate statistical criticality computation under process variations

  1. Mogal, H.D.
  2. Qian, H.
  3. Sapatnekar, S.S.
  4. Bazargan, K.
Revista:
IEEE Transactions on Computer-Aided Design of Integrated Circuits and Systems

ISSN: 0278-0070

Any de publicació: 2009

Volum: 28

Número: 3

Pàgines: 350-363

Tipus: Article

DOI: 10.1109/TCAD.2009.2013278 GOOGLE SCHOLAR
Font de les dades: Scopus