Fast and accurate statistical criticality computation under process variations

  1. Mogal, H.D.
  2. Qian, H.
  3. Sapatnekar, S.S.
  4. Bazargan, K.
Revista:
IEEE Transactions on Computer-Aided Design of Integrated Circuits and Systems

ISSN: 0278-0070

Ano de publicación: 2009

Volume: 28

Número: 3

Páxinas: 350-363

Tipo: Artigo

DOI: 10.1109/TCAD.2009.2013278 GOOGLE SCHOLAR
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