A geometric programming-based worst case gate sizing method incorporating spatial correlation

  1. Singh, J.
  2. Luo, Z.-Q.
  3. Sapatnekar, S.S.
Revista:
IEEE Transactions on Computer-Aided Design of Integrated Circuits and Systems

ISSN: 0278-0070

Ano de publicación: 2008

Volume: 27

Número: 2

Páxinas: 295-308

Tipo: Artigo

DOI: 10.1109/TCAD.2007.913391 GOOGLE SCHOLAR
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