Confidence scalable post-silicon statistical delay prediction under process variations

  1. Qunzeng, L.
  2. Sapatnekar, S.S.
Actes:
Proceedings - Design Automation Conference

ISSN: 0738-100X

ISBN: 9781595936271

Any de publicació: 2007

Pàgines: 497-502

Tipus: Aportació congrés

DOI: 10.1109/DAC.2007.375216 GOOGLE SCHOLAR
Font de les dades: Scopus