Confidence scalable post-silicon statistical delay prediction under process variations
- Qunzeng, L.
- Sapatnekar, S.S.
ISSN: 0738-100X
ISBN: 9781595936271
Ano de publicación: 2007
Páxinas: 497-502
Tipo: Achega congreso
ISSN: 0738-100X
ISBN: 9781595936271
Ano de publicación: 2007
Páxinas: 497-502
Tipo: Achega congreso