Confidence scalable post-silicon statistical delay prediction under process variations
- Qunzeng, L.
- Sapatnekar, S.S.
ISSN: 0738-100X
ISBN: 9781595936271
Datum der Publikation: 2007
Seiten: 497-502
Art: Konferenz-Beitrag
Konferenzberichte:
Proceedings - Design Automation Conference