Mechanical Robustness of Patterned Structures and Failure Mechanisms

  1. Zschech, E.
  2. Elizalde, M.R.
Libro:
More-than-Moore Devices and Integration for Semi Conductors

ISBN: 9783031216091

Ano de publicación: 2023

Páxinas: 157-190

Tipo: Capítulo de libro

DOI: 10.1007/978-3-031-21610-7_5 GOOGLE SCHOLAR

Obxectivos de Desenvolvemento Sustentable

Fonte de datos: Scopus