A comparison among different setups for measuring on-wafer integrated inductors in RF applications

  1. Aguilera, J.
  2. Matías, G.
  3. De Nó, J.
  4. García-Alonso, A.
  5. Berenguer, R.
Revista:
IEEE Transactions on Instrumentation and Measurement

ISSN: 0018-9456

Año de publicación: 2002

Volumen: 51

Número: 3

Páginas: 487-491

Tipo: Artículo

DOI: 10.1109/TIM.2002.1017719 GOOGLE SCHOLAR
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