Analysis of the Results of Accelerated Aging Tests in Insulated Gate Bipolar Transistors

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Zeitschrift:
IEEE Transactions on Power Electronics

ISSN: 0885-8993

Datum der Publikation: 2016

Ausgabe: 31

Nummer: 11

Seiten: 7953-7962

Art: Artikel

DOI: 10.1109/TPEL.2015.2512923 GOOGLE SCHOLAR
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