Analysis of the Results of Accelerated Aging Tests in Insulated Gate Bipolar Transistors

  1. Astigarraga, D.
  2. Ibanez, F.M.
  3. Galarza, A.
  4. Echeverria, J.M.
  5. Unanue, I.
  6. Baraldi, P.
  7. Zio, E.
Revista:
IEEE Transactions on Power Electronics

ISSN: 0885-8993

Ano de publicación: 2016

Volume: 31

Número: 11

Páxinas: 7953-7962

Tipo: Artigo

DOI: 10.1109/TPEL.2015.2512923 GOOGLE SCHOLAR
Fonte de datos: Scopus