Characterization of tantalum oxynitride thin films as high-temperature strain gauges
- Ayerdi, I.
- Castaño, E.
- García-Alonso, A.
- Gracia, F.J.
ISSN: 0924-4247
Ano de publicación: 1995
Volume: 46
Número: 1-3
Páxinas: 218-221
Tipo: Artigo
ISSN: 0924-4247
Ano de publicación: 1995
Volume: 46
Número: 1-3
Páxinas: 218-221
Tipo: Artigo