Thermal slip sources at the extremity and bevel edge of silicon wafers

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Zeitschrift:
Journal of Applied Crystallography

ISSN: 0021-8898 1600-5767

Datum der Publikation: 2011

Ausgabe: 44

Nummer: 3

Seiten: 489-494

Art: Artikel

DOI: 10.1107/S0021889811012088 GOOGLE SCHOLAR