Thermal slip sources at the extremity and bevel edge of silicon wafers
- Tanner, B.K.
- Wittge, J.
- Allen, D.
- Fossati, M.C.
- Danilwesky, A.N.
- McNally, P.
- Garagorri, J.
- Elizalde, M.R.
- Jacques, D.
ISSN: 0021-8898, 1600-5767
Argitalpen urtea: 2011
Alea: 44
Zenbakia: 3
Orrialdeak: 489-494
Mota: Artikulua