Capturing post-silicon variations using a representative critical path

  1. Liu, Q.
  2. Sapatnekar, S.S.
Revista:
IEEE Transactions on Computer-Aided Design of Integrated Circuits and Systems

ISSN: 0278-0070

Any de publicació: 2010

Volum: 29

Número: 2

Pàgines: 211-222

Tipus: Aportació congrés

DOI: 10.1109/TCAD.2009.2035552 GOOGLE SCHOLAR
Font de les dades: Scopus