Capturing post-silicon variations using a representative critical path

  1. Liu, Q.
  2. Sapatnekar, S.S.
Revista:
IEEE Transactions on Computer-Aided Design of Integrated Circuits and Systems

ISSN: 0278-0070

Ano de publicación: 2010

Volume: 29

Número: 2

Páxinas: 211-222

Tipo: Achega congreso

DOI: 10.1109/TCAD.2009.2035552 GOOGLE SCHOLAR
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