Capturing post-silicon variations using a representative critical path
- Liu, Q.
- Sapatnekar, S.S.
ISSN: 0278-0070
Datum der Publikation: 2010
Ausgabe: 29
Nummer: 2
Seiten: 211-222
Art: Konferenz-Beitrag
Zeitschrift:
IEEE Transactions on Computer-Aided Design of Integrated Circuits and Systems