Capturing post-silicon variations using a representative critical path
- Liu, Q.
- Sapatnekar, S.S.
ISSN: 0278-0070
Année de publication: 2010
Volumen: 29
Número: 2
Pages: 211-222
Type: Communication dans un congrès
ISSN: 0278-0070
Année de publication: 2010
Volumen: 29
Número: 2
Pages: 211-222
Type: Communication dans un congrès