Capturing post-silicon variations using a representative critical path
- Liu, Q.
- Sapatnekar, S.S.
ISSN: 0278-0070
Argitalpen urtea: 2010
Alea: 29
Zenbakia: 2
Orrialdeak: 211-222
Mota: Biltzar ekarpena
Aldizkaria:
IEEE Transactions on Computer-Aided Design of Integrated Circuits and Systems