A finite-oxide thickness-based analytical model for negative bias temperature instability
- Kumar, S.V.
- Kim, C.H.
- Sapatnekar, S.S.
ISSN: 1530-4388, 1530-4388
Año de publicación: 2009
Volumen: 9
Número: 4
Páginas: 537-556
Tipo: Aportación congreso